常見問題
X射線熒光分析儀的優缺點有哪些
更新時間 2021-08-11 10:22 閱讀
想要明白X射線熒光光譜儀的優缺點，就先要了解什麽是X射線熒光分析儀？
(1)X射線是一種電磁波，波長比紫外線還要短，為0.001- 10nm左右。X射線照射到 物質上麵以後，從物質上主要可以觀測到以下三種X射線。熒光X射線、散射X射線、透過X射線，SIINT產品使用的是通過對第一種熒光X射線的測定，從物質中獲取元素信息（成 分和膜厚）的熒光X射線法原理。物質受到X射線的照射時，發生元素所固有的X射線（固 有X射線或者特征X射線）。熒光X射線裝置就是通過對該X射線的檢測而獲取元素信息。
(2)原理：高能粒子（電子或連續X射線等）與靶材料碰撞時，將靶原子內層電子（如K，L，M等層）逐出成為光電子，原子便出現一個空穴，此時原子處於激發態，隨即較外層電子立即躍遷到能量較低的內層空軌道上，填補空穴位。若此時以X射線的形式輻射多餘能量，便是特征X射線。當K層電子被逐出後，所有外層電子都可能跳回到K層空穴便形成K係特征X射線。由L，M，N…層躍遷到K層的X光分別為Kα，Kβ，Kγ…輻射。同樣地，逐出L或M層電子後將有相應的L係或M係特征X射線：Lα，Lβ…；Mα，Mβ…。Kα，Kβ輻射的波長λ是特征的，它取決於K，L，M電子能層的能量： 可以看出，不同元素由於原子結構不同，各電子層的能量不同，所以它們的特征X射線波長也就各不相同。通常人們將X光管所產生的X射線稱為初級X射線。以初級X射線為激發光源照射試樣，激發態試樣所釋放的能量不為原子內部吸收而以輻射形式發出次級X射線，這便是X射線熒光由於各種元素發射具有特定波長（或能量）的標識X射線,可利用鋰漂移、矽半導體等不同探測器及能譜分析儀來確定元素的種類。而標識譜線強度可用來確定元素含量。
X射線熒光分析儀的優缺點有哪些？
X射線熒光分析儀的優點：
(1)采樣方式靈敏，如SII SEA係列配有較大檢測室 ，多數試樣可直接進行檢測。可以減少取樣帶來的損耗，對於已壓鑄好的機械零件可以做到無損檢測，而不毀壞樣品。
(2)測試速率高，可以在較少時間內進行大量樣品測試，分析結果可以通過計算機直接連網輸出。
(3)分析速度較快。
(4)對於純金屬可采用無標樣分析，精度能達分析要求。
(5)不需要專業實驗室與操作人員，不引入其它對環境有害的物質。
X射線熒光分析儀的缺點：
(1) 關於非金屬和界於金屬和非金屬之間的元素很難做到精確檢測。在用基本參數法測試時，如果測試樣品裏含有C、H、O等元素，會出現誤差。
(2)不能作為仲裁分析方法，檢測結果不能作為國家認證根據，不能區分元素價態。
(3)對於鋼鐵等含有非金屬元素的合金，需要代表性樣品進行標準曲線繪製，分析結果的精確性是建立在標樣化學分析的基礎上。
(4)標準曲線模型需求不時更新，在儀器發生變化或標準樣品發生變化時，標準曲線模型也要變化
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